Options d’inscription

Bonjour et bienvenue dans le cours d'Analyse de Surface !

Vous trouverez ici tous les documents mis à votre disposition par les enseignants de l'UE (Catherine Journet, Didier Léonard, François Bessueille et Laurent Bardotti).

Ce cours se divise en 2 parties :

Partie A : MICROSCOPIES : Microscopie électronique, diffraction électronique , microscopies en champ proche

A1 - Microscopie électronique en transmission, diffraction électronique

A2 - Microscopie électronique à balayage

A3 - Microscopie en champ proche (Concepts de base)

Partie B : SPECTROSCOPIES :Techniques d'analyse de surface pour caractériser les propriétés physico-chimiques des surfaces et des films minces

B1 – Introduction

B2 - Interactions des rayons X avec la matière

B3 - Microsonde électronique

B4 - Low Energy Electron Induced X-ray Spectrometry (LEEIXS)

B5 - Spectroscopie photoélectronique (XPS, UPS)

B6 - Spectroscopie des électrons Auger (AES)

B7 - Interaction des ions avec la matière

B8 - Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)

B9 - Spectrométrie de diffusion d''ions (ISS)

Les visiteurs anonymes ne peuvent pas accéder à ce cours. Veuillez vous connecter.